OmniScan X4相控阵探伤仪应用|启航检测科技（上海）有限公司提供良好的解决方案
有意义的图像
更快更果断地做决定
除了相控阵超声波测试技术，所有OmniScan X4型号都标配相位
相干成像（PCI）、全聚焦法（TFM）和平面波成像（PWI），以及它们的易用性
使新用户更容易访问它们。使用多种工具提供有关适应症的更多信息
增加你对评估的信心。
查看Phase的更多详细信息
相干成像
识别和解释具有挑战性的缺陷，如钩子
利用PCI的容量进行果断有效的破解
清晰地表示难以检测的缺陷。使
对诸如应力等细微缺陷的准确评估
腐蚀开裂（SCC），因为基于相的PCI是远
较不容易受到相邻缺陷的衰减
amplitude-based技术。因为衍射
SCC是由PCI加重，你可以更容易
描述每个裂缝的深度并利用该软件
盖茨能够迅速找出最深层的缺陷。
高达3倍更快的TFM
利用酥脆提高你的工作效率
TFM提供的定义甚至焦点。根据
在配置中，OmniScan X4系列的TFM已启动
比它的前身（omnican）快三倍
X3 64模型)时使用稀疏射击模式。
双面焊缝检验
双TFM和PCI
给你的焊接证明了一个效率提高使用双胞胎
TFM和PCI。利用PCI和的各个属性
TFM要调查焊缝的体积
双方同时进行。使用安装的两个探头
在我们的AxSEAM™长缝扫描仪上，
您可以在一次传递中生成清晰的TFM和PCI结果。
