ZX-3/ZX-5/ZX-5DL测厚仪
ZX-3/5/5/DL 采用超声反射技术可以用单面测量法快速、准确地测量物体的壁厚，比传统的游标卡尺等壁厚测量方式更快捷方便，适用范围也更广。
测量钢、铸铁、塑料、玻璃、铝、铜等材料的厚度
120MHz FPGA采样率，150V方波脉冲发生器
增益可调节（40-52dB）
增益步进间距3dB（vlow, low, med, high, vhi 五档）
手动或自动调零
低温型（-30℃）LCD显示屏
USB-C型通讯接口：输出数据到计算机（仅ZX-5/5DL)
USB转串口功能，可选RS232或蓝牙模块（仅ZX-5）
IP65防护等级
扫查测量：自动找出被测材料扫查区域内的最薄值
ZX-3/5/5/DL 采用超声反射技术可以用单面测量法快速、准确地测量物体的壁厚，比传统的游标卡尺等壁厚测量方式更快捷方便，适用范围也更广。
测量钢、铸铁、塑料、玻璃、铝、铜等材料的厚度
120MHz FPGA采样率，150V方波脉冲发生器
增益可调节（40-52dB）
增益步进间距3dB（vlow, low, med, high, vhi 五档）
手动或自动调零
低温型（-30℃）LCD显示屏
USB-C型通讯接口：输出数据到计算机（仅ZX-5/5DL)
USB转串口功能，可选RS232或蓝牙模块（仅ZX-5）
IP65防护等级
扫查测量：自动找出被测材料扫查区域内的最薄值
ZX-3/ZX-5/ZX-5DL测厚仪
ZX-3/5/5/DL 采用超声反射技术可以用单面测量法快速、准确地测量物体的壁厚，比传统的游标卡尺等壁厚测量方式更快捷方便，适用范围也更广。
测量钢、铸铁、塑料、玻璃、铝、铜等材料的厚度
120MHz FPGA采样率，150V方波脉冲发生器
增益可调节（40-52dB）
增益步进间距3dB（vlow, low, med, high, vhi 五档）
手动或自动调零
低温型（-30℃）LCD显示屏
USB-C型通讯接口：输出数据到计算机（仅ZX-5/5DL)
USB转串口功能，可选RS232或蓝牙模块（仅ZX-5）
IP65防护等级
扫查测量：自动找出被测材料扫查区域内的最薄值
型号 | 频率 | 晶片直径 | 测量范围（钢） | 说明 |
PT-102-2000 | 5.0MHz | φ6.3mm | 1.0～152mm | 标准探头 |
PT-101-2000 | 5.0MHz | φ4.7mm | 1.5～50mm | 小管径探头 |
PT-104-0000 | 1.0MHz | φ12.7mm | 3.8～50.8mm(铸铁中) | 铸铁探头 |
PT-102-1000 | 2.25MHz | φ6.3mm | 1.5～100mm | 低频探头 |
PT-102-3300 | 7.5MHz | φ6.3mm | 0.63～152mm | 超薄探头 |
PT-104-2000 | 5.0MHz | φ12.7mm | 1.27～500mm | 超厚探头 |
PT-042-2000 | 5.0MHz | φ6.3mm | 1.0～152mm | 高温探头，最高℃ |
PT-044-2000 | 5.0MHz | φ12.7mm | 1.27～500mm | 高温探头，最高340℃ |
PT-212-2001 | 5.0MHz | φ6.3mm | 1.0～150mm | 高温探头，最高482℃ |
PT-214-2001 | 5.0MHz | φ12.7.3mm | 1.27～500mm | 高温探头，最高482℃ |
注：用高温探头测量高温表面时必需用配套的高温耦合剂。
ZX-3/ZX-5/ZX-5DL测厚仪
ZX-3/5/5/DL 采用超声反射技术可以用单面测量法快速、准确地测量物体的壁厚，比传统的游标卡尺等壁厚测量方式更快捷方便，适用范围也更广。
测量钢、铸铁、塑料、玻璃、铝、铜等材料的厚度
120MHz FPGA采样率，150V方波脉冲发生器
增益可调节（40-52dB）
增益步进间距3dB（vlow, low, med, high, vhi 五档）
手动或自动调零
低温型（-30℃）LCD显示屏
USB-C型通讯接口：输出数据到计算机（仅ZX-5/5DL)
USB转串口功能，可选RS232或蓝牙模块（仅ZX-5）
IP65防护等级
扫查测量：自动找出被测材料扫查区域内的最薄值
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