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CTS-8072PR+双通道脉冲发生接收仪

CTS-8072PR+双通道脉冲发生接收仪

产品时间:2024-12-09

访问量:92

厂商性质:代理商

生产地址:

简要描述:
CTS-8072PR+双通道脉冲发生接收仪是应用于高频检测研究的专用仪器,具备低噪声和宽频带的接收放大电路,以及由高性能尖脉冲发生器及高压电源组成的尖波发射电路;提供双通道数据采集功能,并可实现计算机同步控制。

CTS-8072PR+双通道脉冲发生接收仪

CTS-8072PR+双通道脉冲发生接收仪是应用于高频检测研究的专用仪器,具备低噪声和宽频带的接收放大电路,以及由高性能尖脉冲发生器及高压电源组成的尖波发射电路;提供双通道数据采集功能,并可实现计算机同步控制。

产品介绍

CTS-8072PR+脉冲发生接收仪是应用于高频检测研究的专用仪器,具备低噪声和宽频带的接收放大电路,以及由高性能尖脉冲发生器及高压电源组成的尖波发射电路;提供双通道数据采集功能,并可实现计算机同步控制。

功能特点

高精度测量:可以对物体的尺寸、形状和位置进行精确测量。比如在工业无损检测中,能够准确检测出零部件的微小缺陷。

窄波束:波束较窄,有助于提高检测的方向性和定位精度。

特殊设计匹配高频探头的尖脉冲发生器,上升时间<3ns,-110V~-320V可调。

脉冲重复频率可调,最高20kHz。

信号带宽:20KHz~110MHz(-3dB)。

-6dB~+54dB,1dB步进的RF可调增益范围。

20kHz或20MHz可选高通滤波器。

500MHz采样率/12bit数据采集模块。

标准网络接口,实现计算机同步控制及数据采集。

提供本公司自主研发的30MHz、50MHz等系列高频探头。

性能指标

应用领域

应用领域:

电子专业:检测集成电路芯片、印刷电路板的缺陷。超声扫描显微镜SAM、高频C扫等。

材料研究:评估微小材料的结构完整性,如复合材料中的微小裂纹。可应用于测量材料的声学特性,如声速、衰减等,包括材料晶粒度的评估等。

精密机械:检测精密零部件的表面和内部缺陷。

探头测试:可应用于高频超声波探头的声学特性的评价以及性能指标的测试。

声学专业:探究高频超声在不同介质中的传播特性。

应用案例:

 厚度测量

采用CTS-8072PR+高频脉冲发射接收仪,配合我司自主研发的50MHz高频探头,可实现最薄0.08mm塞尺的厚度测量,测量结果准确,波形清晰,波形仅1个周期。

项目参数
脉冲类型负尖波
模式单、双
脉冲下降及上升时间典型值<3ns,最大值≤3.5ns
脉冲幅度-110V~-320V
阻尼25Ω、33Ω、50Ω、100Ω共4档可选
脉冲宽度7ns(50Ω阻尼)
脉冲重复频率100Hz、200Hz、……、19kHz、20kHz共29档可选
增益调节范围-6dB~54dB
同步脉冲输出TTL电平(输出阻抗50Ω)
外部触发输入TTL电平,脉冲大于50ns
最大带宽20kHz~110MHz
最大信号输出±1.5Vp-p
高通滤波20kHz或20MHz
低通滤波110MHz
输入阻抗50Ω
输出阻抗50Ω
输入输出接口T,R,RF输出,外部触发Trig,同步输出Sync
电源可选AC 220V或AC 110V,50Hz~60Hz,出厂标配为AC 220V
外型尺寸305mm×230mm×105mm(长×宽×高)
环境温度0~50 ℃
重量5.0 kg



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